產(chǎn)品中心/ PRODUCTS CENTER
IM7587 阻抗分析儀
IM7587 阻抗分析儀
可信賴的機(jī)型3GHz
● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz
● 測量時(shí)間：Z快0.5ms（模擬測量時(shí)間）
● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時(shí)的代表值）
●
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進(jìn)行測量
- 01
更新日期
2023-11-12
- 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
- 03
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3504-60 C測試儀
3504-60 C測試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
- 01
更新日期
2023-11-12
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3504-50 C測試儀
3504-50 C測試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
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2023-11-12
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3504-40 C測試儀
3504-40 C測試儀
封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
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3506-10 LCR測試儀
3506-10 LCR測試儀 對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
● 模擬測量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測量
● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
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2023-11-12
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3511-50 LCR測試儀
3511-50 LCR測試儀精巧，非常專業(yè)，5ms快速測量LCR
● 高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）
● 高精度： ± 0.08%
● 內(nèi)置比較器
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2023-11-12
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